一, l-essenza teknika tal-fenomenu tal-ghosting
L-essenza ta 'ghosting hija d-deflessjoni mhux mistennija ta' molekuli tal-kristall likwidu mmexxija minn kamp elettriku. Meta l-vultaġġ tas-sewqan jaqbeż il-limitu tax-xogħol tal-materjal tal-kristall likwidu, iż-żona tas-segment tal-pinna li kellha tkun magħluqa se tesperjenza "tnixxija ħafifa" minħabba l-kamp elettriku qawwi, li tifforma immaġni virtwali; Għall-kuntrarju, meta l-vultaġġ tas-sewqan ma jkunx biżżejjed, il-molekuli tal-kristall likwidu ma jistgħux jiddevjaw kompletament, u jirriżultaw f'kulur eħfef tal-kontenut muri. In-nuqqas ta 'qbil bejn il-vultaġġ u l-karatteristiċi tar-rispons tal-kristall likwidu huwa l-mekkaniżmu tal-qalba ta' ghosting.
Meta tieħu l-iskrin tal-kodiċi tas-segment tat-tip TN bħala eżempju, l-angolu tal-vista tiegħu huwa ġeneralment fid-direzzjoni tas-6 ta 'nofsinhar (direzzjoni vertikali ± 30 grad). Meta l-angolu ta 'osservazzjoni jiddevja mill-angolu tad-disinn, l-angolu effettiv ta' deflessjoni ta 'molekuli tal-kristall likwidu jinbidel, li jirriżulta fi tnaqqis fil-kuntrarju. Ċertu manifattur tal-miter tal-elettriku ladarba jkun installa bi żball skrin b'angolu ta 'vista ta' 6 snin u 00, li jirriżulta fi ghosting sever fuq l-iskrin sħiħ. Eventwalment, kien meħtieġ li terġa 'tiġi moffa u aġġustata d-direzzjoni tal-angolu tal-vista, li tirriżulta f'telf ta' mijiet ta 'eluf ta' wan fl-ispejjeż.
2, l-erba 'kawżi ewlenin tal-problema tad-dell tal-ghost
Nuqqas ta 'qbil ta' vultaġġ tas-sewqan
Fit-tagħmir industrijali, in-nuqqas ta 'qbil bejn il-ħruġ tal-vultaġġ tas-sewqan mill-MCU u l-vultaġġ tax-xogħol tal-iskrin LCD huwa l-kawża primarja. Kien hemm fenomenu ta 'ghosting f'ċertu proġett ta' dashboard tal-karozzi fejn in-numru "8" kien muri bħala "88". Wara l-ispezzjoni, instab li l-ħruġ ta 'vultaġġ 5.2V miċ-ċippa tas-sewwieq qabeż il-valur ta' 4.8V nominali tal-iskrin LCD b'0.4V, u kkawża li s-segmenti tal-pinna maġenbhom jiġu attivati aċċidentalment.
Difetti fid-disinn viżwali
Il-karatteristiċi tal-angolu tal-vista tal-iskrin tal-kodiċi tas-segment jaffettwaw direttament l-effett tal-wiri. Meta manifattur tat-tagħmir mediku għażel skrins tal-materjal STN, huma ma kkunsidrawx il-karatteristiċi tal-wiri negattivi tagħhom, li jirriżultaw f'interferenza tal-qawsalla meta jidhru f'angolu ta 'inklinazzjoni ta' 45 grad. Eventwalment, huma qalbu għal skrins tal-veduta sħiħa tal-VA biex isolvu din il-problema.
Proċess ta 'devjazzjoni tal-manifattura
Il-varjazzjoni tal-parametri tal-proċess bħal ħxuna tal-kisi tat-trab u flatness tal-ħġieġ ITO fil-proċess ta 'produzzjoni tista' tikkawża anomaliji ta 'kamp elettriku lokali. Ċertu proġett ta 'kontrollur tad-dar intelliġenti darba kkawża qatra ta' vultaġġ ta '0.3V f'xi segmenti tal-pinna minħabba kisi mhux ugwali tat-trab, li jirriżulta fi fenomenu ta' "karattri ħfief". Il-problema ġiet solvuta billi ottimizzat il-parametri tal-proċess tal-kisi tat-trab.
Effett tad-drift tat-temperatura
Il-veloċità tar-rispons tal-materjali tal-kristall likwidu tvarja b'mod sinifikanti mat-temperatura. Fil-firxa tat-temperatura industrijali ta '- 20 grad sa 70 grad, il-vultaġġ tas-sewqan LCD ta' strument ta 'barra jeħtieġ li jkun aġġustat b'mod dinamiku għal ± 0.5V biex jikkumpensa għall-effetti tat-temperatura, inkella l-wiri ta' ghosting jista 'jseħħ f'ambjenti ta' temperatura baxxa.
3, Soluzzjoni sistematika
1. Disinn li jaqbel mal-vultaġġ
L-ottimizzazzjoni tan-netwerk ta 'diviżur tal-vultaġġ tar-reżistenza: Billi tiġi aġġustata r-resister tal-vultaġġ tad-diviżur (R1 / R2) bejn VDD u VLCD, il-vultaġġ operattiv tal-kristall likwidu jista' jiġi kkontrollat b'mod preċiż. Ċertu proġett HMI industrijali jadotta skema ta 'resister aġġustabbli biex tnaqqas il-firxa ta' varjazzjoni ta 'vultaġġ tas-sewqan minn ± 0.8V sa ± 0.2V.
Konfigurazzjoni tal-proporzjon tal-preġudizzju: Agħżel il-proporzjon ta 'preġudizzju ottimali (bħal 1/3, 1/4 preġudizzju) ibbażat fuq il-karatteristiċi tal-materjal tal-kristall likwidu. Ċertu terminal ta 'monitoraġġ tal-enerġija jadotta disinn ta' 1/4 preġudizzju, li jnaqqas ir-rata ta 'inċidenza ta' ghost minn 12% għal 0.5%.
Kumpens għall-vultaġġ dinamiku: Sensor tat-temperatura integrat u ċippa DAC biex tinkiseb kalibrazzjoni awtomatika tal-vultaġġ fil-firxa ta '-40 grad sa 85 grad. Is-sistema BMS ta 'ċerta vettura ta' enerġija ġdida tejbet l-istabbiltà tal-wiri bi 300% permezz ta 'din is-soluzzjoni.
2. Kontroll preċiż tal-perspettiva
Konferma tal-Perspettiva matul l-istadju tal-ftuħ tal-moffa: Iċċara r-rekwiżiti tal-perspettiva matul l-istadju tad-definizzjoni tal-prodott (bħal 6 ta 'nofsinhar, 9 ta' nofsinhar, jew veduta sħiħa), u vverifikahom permezz ta 'simulazzjoni ottika 3D. Proġett tal-iskrin tal-kontroll ċentrali mmuntat fuq vettura estenda l-angolu tal-vista minn ± 40 grad sa ± 70 grad permezz tal-ottimizzazzjoni tal-perspettiva.
Tqabbil tal-angolu tal-film polarizzanti: Agħżel il-film polarizzanti korrispondenti bbażat fuq l-angolu tat-twist tal-kristall likwidu (90 grad TN / 240 grad STN), u apparat mediku jelimina l-interferenza tal-mudell tal-qawsalla billi taġġusta l-assi tal-film polarizzanti.
3. Proċess ta 'kontroll tal-kwalità
Sejbien tal-ħġieġ ITO: Interferometru bil-lejżer jintuża biex jikxef il-flatness tal-ħġieġ, li jiżgura li l-iżball tat-tul ta 'mewġa huwa inqas minn λ / 20. Proġett ta 'strument finali għoli - naqqas l-irregolarità tal-wiri tas-segment tal-pinna minn 15% għal 3% permezz ta' din il-miżura.
Standardizzazzjoni tal-proċess tal-kisi tat-trab: Stabbilixxi mudell matematiku tar-relazzjoni bejn il-ħxuna tal-kisi tat-trab u l-vultaġġ. Manifattur tal-kontrollur itejjeb il-konsistenza tal-vultaġġ b'żewġ ordnijiet ta 'kobor billi jikkontrolla l-ammont tal-kisi tat-trab fil-medda ta' 8 ± 1 μm.
4. Disinn taċ-ċirkwit tas-sewwieq
Wajers ta 'reżistenza baxxa: Il-wisa' tal-linja tas-sinjal COM / SEG żdiedet minn 0.2mm għal 0.3mm, u l-impedenza tnaqqset minn 50 Ω għal 30 Ω. Ċertu proġett PLC industrijali elimina ghosting ikkawżat minn dewmien tas-sinjal permezz ta 'dan it-titjib.
Disinn ta 'Protezzjoni EMC: Id-dijodi tat-televiżjonijiet u żibeġ manjetiċi huma miżjuda maċ-ċirkwit tas-sewqan, u r-rata ta' sopravivenza tal-modulu f'ċertu apparat ta 'barra waqt l-ittestjar tas-sajjetti żdiedet minn 60% għal 98%.
4, analiżi tipika tal-każijiet
Każ 1: Proġett ta 'Meter Intelliġenti
Problema: Il-wiri diġitali juri ghosting f'ambjenti ta 'temperatura baxxa -
Soluzzjoni:
Qlib għal materjali LCD tat-temperatura wiesgħa (-40 grad ~ 85 grad)
Żid ċirkwit ta 'kumpens tat-temperatura u aġġusta b'mod dinamiku l-vultaġġ tas-sewqan
Ottimizza t-tqassim tal-PCB u tqassar ir-rotta tas-sinjal
Effett: Ir-rata ta 'inċidenza ghost imnaqqsa minn 23% għal 0.8%, iċċertifikata minn IEC62053
Każ 2: Panew tal-Kontroll ta 'Printer Industrijali
Problema: L-interferenza inkroċjata sseħħ meta segmenti multipli jintwerew fl-istess ħin
Soluzzjoni:
L-adozzjoni ta 'arkitettura tas-sewwieq tal-port doppju
Iddisinja mill-ġdid in-netwerk tar-resister tal-vultaġġ diviżur
Żid is-saff tal-ilqugħ biex tnaqqas l-interferenza elettromanjetika
Effett: Iċ-ċarezza tal-wiri mtejba b'40%, iċċertifikata mill-Klassi B EMC
